高溫低電阻測試儀器高溫絕緣電阻高低溫介電溫譜測試儀冷熱臺高溫介電溫譜測試儀鐵電分析儀壓電系數測試儀熱釋電系數測試儀PVDF 薄膜極化TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化電源薄膜高壓功率放大器多通道介電測試系統高溫四探針高溫退火爐簡易探針臺小型探針臺中端探針臺雙面探針天綜合性分析探針臺高低溫探針臺高低溫真空探針臺電介質充放電系統高壓TSDC激光測振儀200V功率放大器500V功率放大器700V功率放大器1kV功率放大器2kV功率放大器4kV功率放大器5kV功率放大器8kV功率放大器10kV功率放大器20kV功率放大器30kV功率放大器40kV功率放大器高低溫絕緣電阻5kV/HS功率放大器10kV/HS功率放大器20kV/HS功率放大器500V多通道功率放大器2kV多通道功率放大器高電場介電、損耗、漏電流測試系統高速脈沖電壓模塊熱釋電系數測試儀表面電荷測量系統先進功能材料電測綜合測試系統7kV功率放大器50kV功率放大器塞貝克系數電阻測試儀8kV至30kV系列高壓直流模塊電源穩壓直流-高壓直流模塊電源功能材料科研儀器靜電計電線電纜耐電痕試驗儀高頻脈沖耐電暈高壓漆膜連續性電壓擊穿試驗儀閉孔溫度、破孔溫度測試儀電弱點測試儀50點耐壓測試系統隔膜氣密性測試系統脈沖電聲法(PEA)直流或交流場下的空間電荷測量系統長期耐腐蝕老化試驗平臺耐電弧試驗儀低壓漏電起痕試驗儀高壓漏電起痕試驗儀漆包線電壓擊穿試驗儀高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統行業檢測設備憶阻器單元研發測試方案納米發電機測試方案電運輸特性測試方案mosfet測試方案半導體晶圓測試方案鋰電池生產工程的解決方案介電材料的解決方案材料測試解決方案電遷移評估系統-AMI系列電遷移評估系統-AME系列電遷移評估系統-AMQPCB壓接型IGBT器件封裝的電熱力多物理量均衡調控方法大功率新能源精彩視頻干貨文章亮點詳解測量技巧
半導體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統
01 減弱電網諧波對采集精度的影響
研究前景
產品概述
產品優勢
產品參數
02 減弱不規則輸入的自動平均值功能、數據處理及內部屏蔽
03 優勢多多   略勝一籌
04 ***的操作軟件
06 不一樣的加溫方式及更多應用場景
05 ***的硬件配置
      高溫絕緣電阻率運用三電極法設計原理測量。該儀器設計符合《GB/T 10518-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗方法》標準設計開發。利用三電極測試系統,重復性與穩定性比較好,提升了夾具的抗干擾能力,同時大大提升精度,也可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
      針對高溫絕緣電阻測試儀做了多項安全設計,測試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以實現測試過程的安全;資料保存機制,當遇到電腦異常瞬時斷電時,可將資料保存于控制器中,不丟失試驗數,設備重新開啟后可恢復原有試驗數據。
      環氧塑封料(EMC, Epoxy Molding Compound)是用于半導體封裝的一種熱固性化學材料,是由環氧樹脂為基體樹脂,以高性能酚醛樹脂為固化劑,加入硅微粉等為填料,以及添加多種助劑混配而成的粉狀模塑料,為后道封裝的主要原材料之一,目前95%以上的微電子器件都是環氧塑封器件。環氧塑封料具有保護芯片不受外界環境的影響,抵抗外部溶劑、濕氣、沖擊,**芯片與外界環境電絕緣等功能。環氧塑封料對高功率半導體器件的高溫反向偏壓(HTRB)性能有重要控制作用。
      高低溫環境下的絕緣電阻測試技術用于預測EMC的HTRB性能。電介質樣品暴露在高電場強度和高溫環境下。在這種情況下,高分子聚合物材料在高溫環境下具有負阻性的特征,電阻(率)隨著溫度的上升而下降,HTRB性能之間的相關性表明,隨著溫度的上升電阻率越下降嚴重,而HTRB性能越差,因此,材料的電阻率是HTRB失效測量的一個關鍵測量手段。關于環氧塑封料(EMC, Epoxy Molding Compound)高低溫測試技術,已證明此測試方式是有效的,同時加速國產化IGBT、MOSFET等功率器件的研發。
      自動平均值是檢測電流的變化,并自動將其進行平均化的功能, 在查看測量結果的同時不需要改變設置。通過自動排除充電電流的過渡響應時或接觸不穩定導致偏差較大。電流輸入端口采用大口徑三軸連接器,是將內部屏蔽連接至GUARD(COM)線,外部屏蔽連接至GROUND的3層同軸設計。兼顧抗干擾的穩定性和高壓檢查時的安全性。
      測試系統的軟件平臺 Huacepro ,基于labview系統開發,符合功能材料的各項測試需求,具備強大的穩定性與操作安全性,并具備斷電資料的保存功能,圖像資料也可保存恢復。支持最新的國際標準,兼容XP、win7、win10系統。
     華測高溫電阻率測試系統搭配Labview系統開發的Huacepro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流、溫度、時間等設置,符合絕緣材料與其它新材料測試多樣化的需求。
      在超高阻、弱信號測量過程中、輸入偏置電流和泄漏電流都會引起測量誤差。同時電網中大量使用變頻器等高頻、高功率設備,將對電網造成諧波干擾。以致影響弱信號的采集,華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用特殊參數分析技術,實現了高達1fA(10^-15 A)的測量分辨率。
屏蔽箱SME-8350
砝碼電極  SME-8320
平板測試用電極  SME-8311
表面電阻測量用電極  SME-8302
SMD電容測試用電極  SME-8360
SMD電容測試用電極  SME-8360
表面電阻測量用電極  SME-8301
平板測試用電極  SME-8310
電極及屏蔽箱的選型圖
      測量高絕緣電阻的測試物、介電性或容量性的測試物時作為測試物收納箱進行電磁屏蔽。和砝碼電極SME-8320組合使用時,成為反電極或保護電極。測量電容或變壓器等電子元件時,可以屏蔽掉外部雜音、泄漏電流等,**穩定的測量。
      和屏蔽箱(SME-8350)組合使用的用于平板測試物的電極。對于地毯等表面粗糙的測試物,也可輕松進行表面面電阻以及體積電阻的測量。
主電極直徑為50mm,保護電極內徑為70mm,外徑80mm,附帶構成兩電極的同心圓的治具 和香焦夾2個。
      用于測量平板測試物的固有電阻。測試物的尺寸從40mm角到100mm角,厚度到8mm都可測量。主電極直徑為19.6mm,保護電極內徑為24.1mm,外徑為28.8mm。外觀及使用方法與SME-8310相同。
體積: 215W × 78H × 165D mm 線長: 75 cm。
      可在測量樹脂成形品、橡膠加工品等形狀為曲面的測試物或測試物較小的情況下使用的用于測量表面電阻的電極。需將電極前端按在測試物上,即可輕松的測量表面電阻。可測量電極間隔為10mm、10^11Ω的電阻。
體積: φ 40 × 115 mm, 線長: 1 m
   用于測量貼片式電容絕緣電阻的電極。治具可從0mm到11mm任意調整 ,可測量各種貼片式電容。使用連鎖連接電纜連接主機,蓋子只要一打開,測量電壓就會變為“OFF”。 
      電極上還增加了保護電極。※附帶檢查成績表可測量到10^19Ω·cm (1,000V時)。
總容量: 25 mL
主電極·反電極之間的電容: 約45 pF
電極常數: 約500 cm
兩電極之間的間隔: 1 mm 
      需將電極的前端壓住被測物即可測量其表面電阻。亦可用于靜電相關產品被測物的表面電阻測量。可測量10^11Ω的電阻。
     用于測量平板測試物的固有電阻。測試物的尺寸可測量到100mm角,厚度到8mm。主電極直徑為50mm ,保護電極內徑為70mm,外徑為80mm。連接電纜連接到主機上后,只要打開蓋子,測量電壓就會變為“OFF”,實現安全。體積電阻和表面電阻的切換通過側面開關進行。
體積: 215W × 78H × 165D mm 線長: 75 cm。
體積: 200W × 52H × 150D mm, 線長 : 85 cm
體積: 250W × 100H × 200D mm,線長: 80 cm
附件: 連接線(長寬各60cm) 紅:0GA00029、黑:0GA00030
請注意:電極和超絕緣計連接時,可能需要變更連接器
將電極·屏蔽箱連接至SM7110時,需要Z5010轉換器或者更換連接器,詳情請咨詢。