高溫低電阻測試儀器高溫絕緣電阻高低溫介電溫譜測試儀冷熱臺高溫介電溫譜測試儀鐵電分析儀壓電系數測試儀熱釋電系數測試儀PVDF 薄膜極化TSDC熱刺激電流測試儀高壓極化電源薄膜高壓功率放大器多通道介電測試系統高溫四探針高溫退火爐簡易探針臺小型探針臺中端探針臺雙面探針天綜合性分析探針臺高低溫探針臺高低溫真空探針臺電介質充放電系統高壓TSDC激光測振儀200V功率放大器500V功率放大器700V功率放大器1kV功率放大器2kV功率放大器4kV功率放大器5kV功率放大器8kV功率放大器10kV功率放大器20kV功率放大器30kV功率放大器40kV功率放大器高低溫絕緣電阻5kV/HS功率放大器10kV/HS功率放大器20kV/HS功率放大器500V多通道功率放大器2kV多通道功率放大器高電場介電、損耗、漏電流測試系統高速脈沖電壓模塊熱釋電系數測試儀表面電荷測量系統先進功能材料電測綜合測試系統7kV功率放大器50kV功率放大器塞貝克系數電阻測試儀8kV至30kV系列高壓直流模塊電源穩壓直流-高壓直流模塊電源功能材料科研儀器靜電計電線電纜耐電痕試驗儀高頻脈沖耐電暈高壓漆膜連續性電壓擊穿試驗儀閉孔溫度、破孔溫度測試儀電弱點測試儀50點耐壓測試系統隔膜氣密性測試系統脈沖電聲法(PEA)直流或交流場下的空間電荷測量系統長期耐腐蝕老化試驗平臺耐電弧試驗儀低壓漏電起痕試驗儀高壓漏電起痕試驗儀漆包線電壓擊穿試驗儀高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統行業檢測設備憶阻器單元研發測試方案納米發電機測試方案電運輸特性測試方案mosfet測試方案半導體晶圓測試方案鋰電池生產工程的解決方案介電材料的解決方案材料測試解決方案電遷移評估系統-AMI系列電遷移評估系統-AME系列電遷移評估系統-AMQPCB壓接型IGBT器件封裝的電熱力多物理量均衡調控方法大功率新能源精彩視頻干貨文章亮點詳解測量技巧
Huace-8D雙面探針臺
雙面探針臺
     探針臺是一種輔助執行機構,測試人員把需要量測的器件放到探針臺載物臺(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動器件,找到需要探測的位置。接下來測試人員通過旋轉探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕,控制前部探針(射頻或直流探針),有效的扎到被測點,從而使其訊號線與外部測試機導通,通過測試機測試人員可以得到所需要的電性能參數。
      雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學,以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer , LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。

技術參數
臺體配件技術參數
chuck尺寸:8英寸;
水平旋轉:可360°旋轉,細調精度不大于0.1°,帶角度鎖死裝置;
X-Y移動行程:8英寸×8英寸;
X-Y移動精度:10μm/1μm可選;
樣品臺Z軸調節:可升降10mm;
樣品固定:樣品夾定,尺寸可調;真空吸附固定,卡盤多圈吸附環可獨立控制;
雙面點陣平臺:氣動升降平臺升起為雙平臺,落下可做單平臺使用;平臺針座數量:單平臺至多放置8個CB-200針座;
卡盤結構:普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇;

溫度范圍:RT~300℃(400℃、500℃可選);
溫控精度:0.1℃;
溫控穩定性:±1℃;
溫控傳感器:100Ω鉑電阻傳感器;
CCD:200W/500W/1200W像素可選(正反面);
顯微鏡類型:單筒/體視/金相顯微鏡可選;
放大倍率:16X-100X/20X-2000X ;
顯微鏡調節:水平方向繞立柱旋轉X-Y移動2×2英寸,Z軸行程50.8mm;
光源:外置LED環形光源/同軸光源;
屏蔽箱;
高壓測試配件;
光學防震桌;
射頻測試配件;
鍍金卡盤;
轉接頭;
探針卡夾具;
其他
顯微鏡類型:L型單筒顯微鏡;
連續變倍率:6.3 : 1;
放大倍率范圍:0.75-5X;
放大倍率:315X(計算公式:變焦*CCD*顯示器) ;
顯微鏡調節:萬向移動 ;
光源:同軸光源 ;
X-Y-Z移動行程:12*12*12mm;
移動精度:10/2/0.7/0.5/0.35μm可選;
固定方式:磁力吸附/真空吸附可選;
線纜:同軸線/三軸線可選;
漏電精度:10pA/100fA ;
接頭類型:BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選;
材質:鎢鋼/鈹銅可選;
針尖直徑:0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選;
臺體規格
溫控系統
正面光學系統
探針可選配件
背面光學系統
探針座
探針夾具
探針